| Název přístroje / Výrobce (země) |
|
Popis experimentu nebo analýzy |
Vyrobeno |
Obsluha |
| Pulzní IČ (TEA) CO2 Laser / Plovdivská univerzita (Bulharsko) |
|
Laserové depozice a ablace s laditelným infračerveným zářením 9,6 až 10,6 μm, energie v pulzu až 1 J s opakovací frekvencí 1 Hz |
1988 |
VS8 |
| ArF UV excimerový laser ASX-750 / Semento (Estonsko) |
|
Laserové depozice a ablace pomocí UV záření o vlnové délce 193 nm, energie v pulzu až 150 mJ s opakovací frekvencí 10 Hz |
2015 |
VS8 |
| Naprašovačka Q 150T ES Plus / Quorum Technologies Ltd. (UK) |
|
Naprašování tenkých vodivých (Au, Pt, Ag, Cr) vrstev pro elektr. mikroskopii, příprava uhlíkových vrstev |
2021 |
VS8 |
| RF generátor Model 300 / Elite (USA) |
|
Generace RF plazmatu 13.56 MHz s přizpůsobovacím matchboxem pro přípravu křemíkových vrstev |
2020 |
Fajgar Koštejn |
| FTIR spektrometr Nicolet Avatar 360 / Thermo Scientific (USA) |
|
Měření IČ spekter látek transmisní, reflexní či ATR technikou, základní charakterizace vibračních stavů |
1997 |
VS8 |
| Ramanův spektrometr Almega XR / Thermo Scientific (USA) |
|
Měření Ramanových spekter s optickým mikroskopem (Olympus BX51, 473 nm), , základní charakterizace vibračních stavů |
2007 |
VS8 |
| UV-Vis spektrometr Model 1800 / Shimadzu Corp. (Japonsko) |
|
Měření absorpčních spekter s vys. rozlišením (190 – 1100 nm), nástavec pro transmisní a reflexní mód, optický band gap |
2018 |
Fajgar Koštejn |
| XPS Fotoelektronový spektrometr ESCA 3400 / Kratos (UK) |
|
Určení povrchové stechiometrie a chem. stavů prášků a menších vzorků (s průměrem do 1 cm), odprašování povrchu Ar+ ionty (hloubkové profilování), měření valenčních spekter a band-gap |
2014 |
Fajgar Koštejn |
| Skenovací elektronový mikroskop (SEM) Tescan Indusem vybavený EDX 5010 XFlash detektorem / Bruker (Německo) |
|
Zobrazení připravovaných materiálů a určení atomárního složení vzorků (B a prvky s vyšší atom. hmotností) z hloubky až 1 μm s přesností ca 10 rel%, urychlovací napětí 5 – 30 kV |
2012 |
Fajgar Koštejn |
| Práškový rentgenový difraktograf D8 Advance Eco / Bruker (Německo) |
|
Měření fázového složení práškových tuhých vzorků a tenkých vrstev, stanovení velikosti krystalitů 1 až 100 nm, měření tloušťky tenkých vrstev do 100 nm reflexní technikou |
2020 |
Fajgar Koštejn |
| Termogravimetrický systém TG209 F1 Libra / Netzsch (Německo) |
|
Termogravimetrická analýza pro měření teplotních závislostí rozkladu látek (možnost propojení s FTIR) |
2019 |
Jandová |
| Potenciostat Model 2450EC / Keithley (USA) |
|
Slouží pro měření elektrochemických vlastností materiálů, standardní měření cyklické voltametrie, chronoamperometrie a chronovoltametrie, určování vlastností bateriových systémů pro redukci CO2 a elektrolýzu vody |
2018 |
Koštejn Jandová |
| Potenciostat Autolab M101, 10A booster / Metrohm (Nizozemsko) |
|
2021 |
Dytrych Koštejn |
| Potenciostat SP200, 20A booster / BioLogic (Nizozemsko) |
|
2021 |
Dytrych Koštejn |
| Fluorescenční mikroskop AF3T / Arsenal (ČR) |
|
Fluorescenční a optická mikroskopie, možnost spojení s UV-Vis spektrometrem pro měření fluorescenčních spekter |
2003 |
VS8 |
| Metalografický mikroskop AM2T / Arsenal (ČR) |
|
Metalografická analýza povrchů |
2003 |
VS8 |
| Infračervený mikroskop MMax / Pike Technologies (USA) |
|
Měření IČ spekter Ge ATR technikou ve spojení s FTIR spektrometrem |
2017 |
Fajgar Koštějn |
| UV-Vis vláknový spektrometr Model 2000 / Ocean Optics (USA) |
|
Měření emisních spekter 200 – 800 nm |
2004 |
Fajgar Koštějn |
| UV-Vis vláknový spektrometr Model 4000HR / Ocean Optics (USA) |
|
Měření emisních spekter s vysokým rozlišením 230 – 300 nm |
2010 |
Fajgar Koštějn |
| |
|
|
|
|
| |
|
|
|
|
| |
|
|
|
|
| |
|
|
|
|